Ellipsometry in the measurement of surfaces and thin films : symposium proceedings
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Format : | Livre |
Langue : | anglais |
Titre complet : | Ellipsometry in the measurement of surfaces and thin films : symposium proceedings / @Symposium on the Ellipsometer and its Use in the Measurement of Surfaces and Thin Films |
Publié : |
Washington :
U.S. National Bureau of Standards
, 1964 |
Description matérielle : | vi, 359p. |
Collection : | Miscellaneous publication United states Department of agriculture, Science and education administration |
Sujets : |
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