Semiconductor material and device characterization
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Auteur principal : | |
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Format : | Livre |
Langue : | anglais |
Titre complet : | Semiconductor material and device characterization / Dieter K. Schroder |
Publié : |
New York :
Wiley
, c1990 |
Description matérielle : | xv, 599 p. |
Sujets : |
Notes : | "A Wiley-Interscience publication." |
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Bibliographie : | Includes bibliographical references and index. |
ISBN : | 0-471-51104-8 |