Semiconductor material and device characterization
Enregistré dans:
Auteur principal : | |
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Format : | Livre |
Langue : | anglais |
Titre complet : | Semiconductor material and device characterization / Dieter K. Schroder |
Publié : |
New York :
Wiley
, c1990 |
Description matérielle : | xv, 599 p. |
Sujets : |
BU Sciences
| Cote | Prêt | Statut |
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1er étage, salle 12 | 621.381 SCH | Empruntable | Disponible |