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CARACTERISATION DES COUCHES MINCES POLYCRISTALLINES DE SELENIUM DOPE PAR UN HALOGENE (CL, I) ET ETUDE DES INTERFACES METAL-SELENIUM (M = CR, BI, TE)
L'EFFET DU DOPAGE A ETE ANALYSE PAR DIFFRACTION RX, MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A BALAYAGE, SPECTROMETRIE DE MASSE DES IONS SECONDAIRES, DIFFUSION RAMAN, EMISSION PHOTOELECTRONIQUE RX, EMISSION ELECTRONIQUE AUGER. ON EFFECTUE DES MESURES DE CONDUCTIVITE ELECTRIQUE, D'EFFET HALL ET DE POUVOIR...
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| Auteur principal : | |
|---|---|
| Collectivité auteur : | |
| Autres auteurs : | |
| Format : | Thèse ou mémoire |
| Langue : | français |
| Titre complet : | CARACTERISATION DES COUCHES MINCES POLYCRISTALLINES DE SELENIUM DOPE PAR UN HALOGENE (CL, I) ET ETUDE DES INTERFACES METAL-SELENIUM (M = CR, BI, TE) / GABRIEL SAFOULA; sous la direction de GUY GOUREAUX |
| Publié : |
[Lieu de publication inconnu] :
[Éditeur inconnu]
, 1988 |
| Description matérielle : | 1 vol. (160 P.) |
| Note de thèse : | Thèse d'État : Physique : Nantes : 1988 |
| Sujets : |
Couche mince
> Pouvoir thermoelectrique
> Conductivite electrique
> Effet hall
> Diffusion raman
> Emission photoelectronique
> Rayon x
> Etude experimentale
> Compose mineral
> Non metal
> Selenium
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| Documents associés : | Reproduit comme:
CARACTERISATION DES COUCHES MINCES POLYCRISTALLINES DE SELENIUM DOPE PAR UN HALOGENE (CL, I) ET ETUDE DES INTERFACES METAL-SELENIUM (M = CR, BI, TE) |
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