Processus de capture électronique par des ions lourds très épluchés canalisés dans des cristaux minces à des énergies supérieures à 20 MeV-nucléon

CE TRAVAIL EST CONSACRE A L'ETUDE DES PROCESSUS D'ECHANGES DE CHARGE PAR DES IONS LOURDS CANALISES DANS DES CRISTAUX MINCES A DES ENERGIES SUPERIEURES A 20 MEV/NUCLEON. LA CANALISATION D'IONS LOURDS DANS UN CRISTAL PERMET L'EXTINCTION DES INTERACTIONS A FAIBLE PARAMETRE D'IM...

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux : Dauvergne Denis (Auteur), Remillieux Joseph (Directeur de thèse, Membre du jury), Poizat Jean-Claude (Directeur de thèse)
Collectivité auteur : Université Claude Bernard Lyon 1971-.... (Organisme de soutenance)
Format : Thèse ou mémoire
Langue : français
Titre complet : Processus de capture électronique par des ions lourds très épluchés canalisés dans des cristaux minces à des énergies supérieures à 20 MeV-nucléon / par Denis Dauvergne; sous la direction de Jean-Claude Poizat, Joseph Remilleux
Publié : [S.l.] : [s.n.] , 1993
Description matérielle : 1 vol. (170-4 p.)
Note de thèse : Thèse de doctorat : Sciences. Physique atomique et nucléaire : Lyon 1 : 1993
Sujets :
Documents associés : Reproduit comme: Processus de capture électronique par des ions lourds très épluchés canalisés dans des cristaux minces à des énergies supérieures à 20 MeV-nucléon
Particularités de l'exemplaire : BU Sciences, Ex. 1 :
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330 |a CE TRAVAIL EST CONSACRE A L'ETUDE DES PROCESSUS D'ECHANGES DE CHARGE PAR DES IONS LOURDS CANALISES DANS DES CRISTAUX MINCES A DES ENERGIES SUPERIEURES A 20 MEV/NUCLEON. LA CANALISATION D'IONS LOURDS DANS UN CRISTAL PERMET L'EXTINCTION DES INTERACTIONS A FAIBLE PARAMETRE D'IMPACT AVEC LES CURS ATOMIQUES DU CRISTAL. DES PROCESSUS D'ECHANGES DE CHARGE QUI SONT MINORITAIRES LORS DE COLLISIONS AVEC DES CIBLES SOLIDES PEUVENT ETRE MIS EN EVIDENCE EN CANALISATION, ET MEME DEVENIR DOMINANTS, CAR LA GRANDE MAJORITE DES IONS INCIDENTS INTERAGIT UNIQUEMENT AVEC LE GAZ D'ELECTRONS DE VALENCE DU CRISTAL. C'EST LE CAS DE LA CAPTURE DIELECTRONIQUE (EN ANGLAIS RESONANT TRANSFER AND EXCITATION, RTE), PROCESSUS RESONNANT DANS LEQUEL LA CAPTURE EST ACCOMPAGNEE DE L'EXCITATION D'UN ELECTRON DE CUR DU PROJECTILE, ET DE LA CAPTURE ELECTRONIQUE RADIATIVE (REC). L'ENSEMBLE DES PROCESSUS D'INTERACTION ION-ELECTRON OBSERVABLES EN CANALISATION SONT PRESENTES DANS LE PREMIER CHAPITRE. LES CHAPITRES SUIVANTS DECRIVENT DEUX EXPERIENCES, REALISEES DANS LA VOIE LISE DE L'ACCELERATEUR GANIL DE CAEN: LA PREMIERE EXPERIENCE EST CONSACREE A L'ETUDE DE LA RESONANCE KLL-RTE D'IONS XE#5#2#+ CANALISES LE LONG DE L'AXE <110> D'UN CRISTAL DE 21 M DE SILICIUM, A DES ENERGIES VARIANT DE 34 A 43 MEV/NUCLEON; LA SECONDE PRESENTE L'ETUDE DE LA CAPTURE REC-K PAR DES IONS KR#3#6#+ DE 60 MEV/NUCLEON CANALISES DANS UN CRISTAL DE 37 M DE SILICIUM ORIENTE SELON L'AXE <110>. CES DEUX EXPERIENCES ONT PERMIS DE FAIRE UNE ETUDE DETAILLEE DES DISTRIBUTIONS EN IMPULSION DES ELECTRONS DE VALENCE DU CRISTAL, DANS LA DIRECTION PARTICULIERE DE PROPAGATION DE L'ION INCIDENT CANALISE (PROFILS COMPTON) 
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