Détails bibliographiques
Auteurs principaux : |
Hosmer David W
(Auteur),
Lemeshow Stanley
(Auteur) |
Format : |
Livre |
Langue : |
anglais |
Titre complet : |
Applied logistic regression / David W. Hosmer,... Stanley Lemeshow,... |
Édition : |
2nd edition |
Publié : |
New York, Chichester, Weinheim [etc.] :
John Wiley & Sons, Inc. A Wiley-Interscience Publication
, cop. 2000
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Description matérielle : |
1 vol. (XII-373 p.) |
Collection : |
Wiley series in probability and statistics. Texts and references section
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Sujets : |
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Documents associés : |
Autre format:
Applied logistic regression
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