Microwave electronics : measurement and materials characterisation
Enregistré dans:
Format : | Livre |
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Langue : | anglais |
Titre complet : | Microwave electronics : measurement and materials characterisation / L. F. Chen, C. K. Ong and C. P. Neo... [et al.] |
Publié : |
Chichester :
J. Wiley
, cop. 2004 |
Description matérielle : | 1 vol. (XIII-537 p.) |
Accès en ligne : |
Sommaire disponible à l'adresse
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Contenu : | Résumé disponible à l'adresse |
Sujets : |
Notes : | Sommaire disponible à l'adresse Sur la p. de titre : "L. F. Chen, C. K. Ong and C. P. Neo, National University of Singapore, V. V. Varadan and V. K. Varadan, Pennsylvania State University, USA" |
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Bibliographie : | Bibliogr. en fin de chapitres. Index |
ISBN : | 0-470-84492-2 |