Applied scanning probe methods : V Scanning probe microscopy techniques
The scanning probe microscopy ?eld has been rapidly expanding. It is a demanding task to collect a timely overview of this ?eld with an emphasis on technical dev- opments and industrial applications. It became evident while editing Vols. I IV that a large number of technical and applicational aspect...
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Auteurs principaux : | , , |
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Format : | Livre |
Langue : | anglais |
Titre complet : | Applied scanning probe methods. V, Scanning probe microscopy techniques / edited by Bharat Bhushan, Satoshi Kawata, Harald Fuchs. |
Édition : | 1st ed. 2007. |
Publié : |
Berlin, Heidelberg :
Springer Berlin Heidelberg
, [20..] Cham : Springer Nature |
Collection : | Nanoscience and technology (Internet) |
Accès en ligne : |
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Condition d'utilisation et de reproduction : | Conditions particulières de réutilisation pour les bénéficiaires des licences nationales : https://www.licencesnationales.fr/springer-nature-ebooks-contrat-licence-ln-2017 |
Contenu : | Integrated Cantilevers and Atomic Force Microscopes. Electrostatic Microscanner. Low-Noise Methods for Optical Measurements of Cantilever Deflections. Q-controlled Dynamic Force Microscopy in Air and Liquids. High-Frequency Dynamic Force Microscopy. Torsional Resonance Microscopy and Its Applications. Modeling of Tip-Cantilever Dynamics in Atomic Force Microscopy. Combined Scanning Probe Techniques for In-Situ Electrochemical Imaging at a Nanoscale. New AFM Developments to Study Elasticity and Adhesion at the Nanoscale. Near-Field Raman Spectroscopy and Imaging |
Sujets : | |
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