Modélisation ab initio des défauts ponctuels chargés et de leur impact sur les propriétés opto-électroniques de matériaux semiconducteurs cristallins

Modélisation ab initio des défauts ponctuels chargés et de leur impact sur les propriétés opto-électroniques de matériaux semiconducteurs cristallins

Les défauts cristallographiques sont à l'origine de nombreuses propriétés d'intérêt pour les matériaux applicatifs. Dans le domaine de l'électronique, et du solaire photovoltaïque en particulier, un grand nombre de propriétés optoélectroniques (conductivité électronique, nature et con...

Description complète

Détails bibliographiques
Auteurs principaux : Stoliaroff-Pépin Adrien (Auteur), Jobic Stéphane (Directeur de thèse), Latouche Camille (Directeur de thèse), Boucher Florent (Président du jury de soutenance), Botti Silvana (Rapporteur de la thèse), Villesuzanne Antoine (Rapporteur de la thèse), Baraille Isabelle (Membre du jury)
Collectivités auteurs : Université de Nantes 1962-2021 (Organisme de soutenance), École doctorale Matière, Molécules Matériaux et Géosciences Le Mans (Ecole doctorale associée à la thèse), Institut des Matériaux Jean Rouxel Nantes (Laboratoire associé à la thèse)
Format : Thèse ou mémoire
Langue : anglais
Titre complet : Modélisation ab initio des défauts ponctuels chargés et de leur impact sur les propriétés opto-électroniques de matériaux semiconducteurs cristallins / Adrien Stoliaroff-Pépin; sous la direction de Stéphane Jobic et de Camille Latouche
Publié : 2020
Accès en ligne : Accès Nantes Université
Note sur l'URL : Accès au texte intégral
Note de thèse : Thèse de doctorat : Science des matériaux : Nantes : 2020
Sujets :
Cristaux > Défauts
Semiconducteurs polycristallins
Photopiles
Calcul ab initio
...
Thèses et écrits académiques

Internet

http://www.theses.fr/2020NANT4066/document