Structural and thermal characterization of AIN thin films and their integration in laser devices

Structural and thermal characterization of AIN thin films and their integration in laser devices

Des couches minces de nitrure d'aluminium sont développées sur plusieurs substrats à l'aide d'une pulvérisation cathodique par magnétron à basse température (<200 ° C) afin d'assurer la gestion thermique des dispositifs laser. La caractérisation de la microstructure (DRX, Rama...

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Auteurs principaux : Rammal Mohammad (Auteur), Djouadi Mohamed-Abdou (Directeur de thèse), Rhallabi Ahmed (Directeur de thèse), Yousfi Mohammed (Président du jury de soutenance, Membre du jury), Garnier Bertrand (Membre du jury), Elmazria Omar (Membre du jury)
Collectivités auteurs : Université de Nantes 1962-2021 (Organisme de soutenance), École doctorale Matière, Molécules Matériaux et Géosciences Le Mans (Ecole doctorale associée à la thèse), Université Bretagne Loire 2016-2019 (Autre partenaire associé à la thèse), Institut des Matériaux Jean Rouxel Nantes (Laboratoire associé à la thèse)
Format : Thèse ou mémoire
Langue : anglais
Titre complet : Structural and thermal characterization of AIN thin films and their integration in laser devices / Mohammad Rammal; sous la direction de Mohamed-Abdou Djouadi et de Ahmed Rhallabi
Publié : 2019
Accès en ligne : Accès Nantes Université
Note sur l'URL : Accès au texte intégral
Note de thèse : Thèse de doctorat : Science des matériaux : Nantes : 2019
Sujets :
Nitrure d'aluminium
Magnétrons
Microstructure (physique)
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Thèses et écrits académiques

Internet

http://www.theses.fr/2019NANT4021/document